Caractérisation de revêtement et d’Inconel
Six échantillons d’Inconel avec différents revêtements ont été soumis à l’analyse. Clemex Vision a été utilisé pour mesurer l’épaisseur des couches et la porosité des échantillons.
Figure 1. Une image typique du revêtement analysé, observée au grossissement 100X (0,9810 µm/pixel).
Figure 2. Plusieurs mesures de l'épaisseur du revêtement sont prises en compte afin de caractériser adéquatement la couche.
Figure 3. Les pores sont détectés (vert) et leur surface est mesurée. La surface des pores est comparée à la surface totale du revêtement pour obtenir la porosité.
Solution Clemex pour la caractérisation de revêtement et d’Inconel
Solution
Démontrer la capacité du logiciel d’analyse d’images Clemex Vision à effectuer les analyses suivantes :
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Épaisseur moyenne des revêtements
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Distribution des constituants du revêtement
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Distribution des particules des revêtements
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Pourcentage de porosité des revêtements
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Distribution en longueur des oxydes (globulaires ou en filaments) au sein du substrat
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Épaisseur de l’interstice à l’interface liaison/substrat
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Épaisseur de l’interstice à l’interface liaison/liaison
Résultats
L’analyse de la distribution en longueur des oxydes nécessitait que seul l’Inconel soit visible dans le champ de vision. Le grossissement utilisé était de 100X (0,9810 µm/pixel). Cela était suffisant pour détecter des objets aussi fins que 1 ou 2 microns. Une instruction Chord Size a été utilisée pour exclure les petits objets qui ne devaient pas être pris en compte dans l’analyse.
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