Évaluation ultrarapide des inclusions
Clemex CIR aide les laboratoires de contrôle qualité à améliorer considérablement leur productivité en analysant les inclusions dans l’acier avec une vitesse, une précision et une répétabilité remarquables.
Très simple à utiliser, le logiciel de cotation des inclusions vous permettra de réduire le temps d’analyse à moins de 3 minutes pour une surface de 160 mm², avec une intervention minimale de l’utilisateur.
Fonctionnalités améliorées
Améliorez votre processus de prise de décision en tirant parti de vos données. Grâce à la dernière version de Clemex CIR, vous pouvez trier, filtrer et exporter les mesures de chaque inclusion, obtenant ainsi des informations pertinentes sur vos échantillons.
Types d’analyses
Notre système d’analyse d’images automatisée est conçu pour détecter les inclusions suivantes et les classifier selon les normes les plus reconnues : sulfures, aluminates, silicates, oxydes globulaires, globulaires isolés, borures, carbures, nitrures et carbonitrures.
| ASTM E45 Methods A, C, D, E | Méthodes d’essai normalisées pour la détermination de la teneur en inclusions de l’acier |
|---|---|
| ISO 4967 Methods A, B | Acier – Détermination de la teneur en inclusions non métalliques – Méthode micrographique à l’aide d’images types |
| DIN 50602 Methods M, K | Examen métallographique ; examen microscopique des aciers spéciaux à l’aide d’images types pour évaluer la teneur en inclusions non métalliques |
| JIS G 0555 | Méthode d’essai microscopique des inclusions non métalliques dans l’acier |
| EN 10247 | Examen micrographique de la teneur en inclusions non métalliques des aciers à l’aide d’images types |
Fonctionnalités clés
Logiciel de cotation des inclusions Clemex CIR

Tri des données simplifié
Profitez du navigateur de données le plus performant du marché. Toutes les inclusions détectées peuvent être triées, filtrées et validées en quelques secondes, vous permettant de vous concentrer sur les données critiques.

Carte de l’ensemble de l’échantillon
Localise et cartographie les inclusions sur l’ensemble de la zone d’échantillonnage, selon un alignement vertical ou horizontal. Les champs les plus critiques sont identifiés rapidement et les artefacts peuvent être supprimés. Les opérateurs peuvent naviguer facilement d’un échantillon à l’autre.
Objets traçables
Sélectionnez les inclusions et les artefacts sur une carte de l’ensemble de l’échantillon. Basculez entre cette vue cartographique et les objets sélectionnés afin de les accepter, les reclasser ou les rejeter.
Classification des oxydes et des sulfures
Ajustez le seuillage afin de détecter les oxydes et les sulfures avec précision. Éliminez les artefacts fins et les rayures.
Champs critiques flottants
Les champs les plus critiques selon les normes ASTM, ISO ou DIN sont identifiés automatiquement. Ils sont affichés sur la carte de l’échantillon à l’aide de couleurs correspondant aux types d’inclusions.
Enregistre les images du champ le plus critique
Export automatique des images .tiff des champs les plus critiques avec détection visible. Cela permet de gagner un temps considérable lors de la génération de rapports conformes à la norme ASTM E45 Méthode A.
Fonctionnalités supplémentaires
DIFFÉRENTS LOTS (HEATS) Analyse jusqu’à 6 lots, avec 6 échantillons chacun, au cours d’une même acquisition.
ESTIMATION DE VALEURS EXTRÊMES Caractérisation statistique de la distribution des plus grosses inclusions à partir des résultats de jusqu’à 4 essais, conformément à ASTM E2283.
OPTIMISATION D’IMAGE Mise au point automatique, exposition automatique et correction automatisée de l’illumination.
INCLUSIONS DE GRANDE TAILLE Les inclusions longues s’étendant sur plusieurs champs sont détectées et mesurées comme une seule inclusion.
ÉCHANTILLONS MULTI-PLAQUES Les interfaces entre échantillons empilés sont ignorées.
RECHARGEMENT DE MOTIFS Gain de temps grâce à l’utilisation d’une platine magnétique et à la réutilisation de motifs de positionnement enregistrés.
GÉNÉRATION DE RAPPORTS Export des résultats dans plusieurs formats, dont XLS, TXT, CSV et ASCII pour post-traitement.
SAUVEGARDE D’IMAGES Les images acquises lors de l’analyse peuvent être sauvegardées pour utilisation ultérieure.
Détails du produit

Typiquement, un microscope inversé Nikon, une platine motorisée Märzhäuser et une caméra haute résolution sont sélectionnés afin de répondre précisément à vos besoins en cotation des inclusions. Nous assurons une intégration complète et harmonieuse de l’ensemble des composants.
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Analyse de vos besoins par un représentant technique
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Configuration, ajustement et étalonnage
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Installation sur site et formation de votre équipe

Augmentez la productivité en laboratoire à haut débit grâce à un flux de travail simple. L’opérateur suit une procédure en 3 étapes pour obtenir des résultats reproductibles :
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Positionner l’échantillon sur la platine
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Lancer l’analyse de l’échantillon
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Consulter les données et exporter les résultats
Matériel et accessoires

Accessoires de platines et porte-échantillons
Clemex conçoit et fabrique des porte-échantillons et adaptateurs de platine sur mesure pour répondre aux besoins clients en analyse d’image.
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Microscopes
Clemex distribue des microscopes Nikon et Leica en Amérique et Europe, via ses solutions clés en main, pour une analyse microscopique précise et reproductible.
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Platines de microscope
Les platines, contrôleurs et joysticks Märzhäuser-Wetzlar sont compatibles avec plusieurs microscopes et entièrement pilotés par notre logiciel.
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